近日，由PXI技术的发明者和引导者NI(美国国家仪器公司)主办的2016 （第十三届）PXI 技术和应用论坛在上海落下帷幕。今年会议的主题为"更智能的系统-更智能的系统测试"，吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表，对PXI最新技术发展趋势和应用案例做了交流探讨，同时15家国内外知名PXI供应商和系统集成商亮相本次PXI TAC，展示了他们基于PXI技术开发的消费电子、汽车电子、射频通信、国防与航空航天、半导体、能源等行业的各项产品和技术应用。
NI PXI平台和仪器研发副总裁Robert Canik先生在本次会议开场演讲中指出，自NI 19年前推出PXI技术以来，PXI平台现已成为了自动化测试和控制的主流平台。和传统仪器相比，PXI平台具有较高的测量能力，低延迟和高带宽，软件灵活定义，集成定时和同步，高处理性能，尺寸、重量、功耗小，平台仪器齐全等优点；并且PXI平台可以作为整个系统的中心，连接已有的其他仪器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在最大可能减少系统瓶颈的情况下，保持已有设备投资。因此，越来越多的客户使用PXI平台的仪器开展自动化测试。正是这些因素让NI的PXI系统每年超过15%的速度增长，并且今后还需持续保持高速增长。
NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale
NI全球市场高级副总裁 Ajit Gokhale先生指出随着以物联网为代表的智能系统的兴起，智能设备呈爆炸式增长态势，对测试和测量任务提出更加严峻的挑战。"在物联网的大背景下，智能设不断涌现，形成了更智能的系统，这就必然需要更加智能的测试系统。凭借开放灵活的软件、模块化的硬件和完整的生态系统，PXI平台获得了自动化测控领域工程师的一致认可，" Ajit Gokhale表示，"作为PXI平台的发明者和市场领导者， NI多年来坚持将PXI TAC打造成开放、自由的技术交流平台。我们期待与各界同仁携手，促成PXI平台的持续创新，应对测试测量任务越来越严峻的挑战。"
NI自动化测试场频市场经理陈宇睿先生介绍目前共有60多个厂家2000多种模块化仪器和组件。在2000多种模块化仪器中，NI自家就占有600多种，是PXI平台中毋庸置疑的领导者。在PXI平台上可以分别用三组不同的模块化仪器对物联网设备的传感，互联和电源进行测试，这让测试规划因此而变得非常灵活。
在今年的PXI TAC上，NI发布了7位半数字万用表(DMM)、802.11ax无线测试解决方案、用于毫米波(mmWave)的软件无线电(SDR)和模块化源测量单元(SMU)等多款业界首创的PXI新产品，帮助用户打造更加智能的系统测试解决方案。